光電材料|UDP 糖| 卟啉 |光電應用納米結構氯化銦(III)酞菁/FTO薄膜的結構表征和光學性質
在光電應用中,使用氯化銦酞菁(InClPc)薄膜。
然而,這些電影并沒有得到廣泛的研究。
采用熱真空蒸發技術在清潔的摻氟氧化錫(FTO)襯底上沉積了InClPc薄膜。
采用x射線衍射和原子力顯微鏡對樣品的結構和形貌進行了檢測。
結果表明,隨著薄膜厚度從48 nm增加到137 nm,顆粒尺寸從79 nm增加到126 nm,薄膜由分布在薄膜表面的球形顆粒組成。
從250 ~ 2500 nm波長范圍內的反射光譜和透射光譜中提取了InClPc薄膜的線性光學常數。
InClPc薄膜有兩個能隙,分別為Eg1 = 1.37 eV和Eg2 = 2.84 eV,其能隙隨薄膜厚度的變化而略有變化。
根據米勒定律,計算了非線性光學參數。
采用兩個獨立的激光源(紅色He-Ne激光器和綠色二極管激光器)進行光限幅測試。
以及紅色He-Ne激光功率強度性能高。
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