為了提高x射線密度測量的精度，研究了光電效應對x射線密度測井的影響。

**，根據地層x射線衰減原理，利用XCOM程序，分析了地層x射線康普頓散射和光電效應的變化規律;

其次，在此基礎上研究了光電效應對x射線密度測井的影響。

第三，提出了利用巖性窗口和密度窗口計數計算地層體積密度來校正光電效應的方法。

最后，通過MCNP仿真驗證了該方法的**性。

結果表明，光電效應是影響x射線密度測量精度的重要因素，x射線能量越低，光電效應對x射線密度測量的影響越大，密度測量精度越低。

由于Cs-137源釋放的γ射線處于高能級，利用密度窗計數計算地層體積密度時，光電效應的影響基本可以忽略不計;相反，x射線源釋放的x射線處于低能級，用x射線測量地層體積密度時，不能忽略光電效應的影響。

地層體積密度計算方法能**消除光電效應的影響，測量精度達到0.01g/cm3左右，為x射線密度測井過程中準確測量密度提供了理論基礎。

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